加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了最新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。
注意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗)

產品特點:

■  智能型排氣設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性

■  長時間實驗機臺運轉400小時超長效實驗運轉時間

■  內建USB2.0&磁盤驅動器數字記錄器儲存接口創新USB2.0儲存接口

■  箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6kg tank耐壓設計

■  二段式壓力安全保護裝置采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置

■  安全保護排壓鈕緊急安全裝置二段式自動排壓鈕

直立式全彩觸控控制系統
控制系統通過EMC(電磁兼容性)驗證
直立式全彩液晶TFT,簡體顯示器
0.1℃ / 1% RH精確解析能力
999 H59M  
全自動控制與安全保護協調系統
High power LED運轉狀態指示燈

溫濕度表:

性能

1.1 設定溫度: +100 ℃ ～ +135 ℃ ( 飽和蒸氣溫度 )
1.2 濕度范圍: 75~100 % 飽和蒸氣濕度0Kg ～ 3.5 Kg / cm2 ( 內桶設計耐壓 4 Kg / cm2 )
1.3 時間范圍: 000 Hr ～ 999 Hr
1.4 加壓時間: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 約 45
1.5 測試條件: 溫度121℃,100%RH飽和蒸氣,壓力1.04 Kg/c㎡

結構
2.1 試驗箱尺寸: 直徑30cmx 深度50 cm /直徑35cmx 深度50 cm ,圓型試驗室
2.2 全機外尺寸（請以實際尺寸為準）:900x 800 x 900 cm ( W * D * H )
2.3 內桶材質: 不銹鋼板材質 # SUS-316 制
2.4 外桶材質: 不銹鋼板材質 # SUS-304 制
2.5 控制系統
a.采用觸控式控制器,控制試驗室濕度,溫度,時間
b.采用指針顯示壓力表.(可選購數顯式)
c.微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度.
c.手動/自動入水閥.
2.6 機械結構:
a.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計.
b.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品. \
c.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 500Hrs 運轉.
d.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計, 內有大于常壓時測試門會被反壓保護. 專利型packing設計使門與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命.
f.臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示
其它附屬配件
3.1 測試置架
3.2 樣品盤
3.3 蒸氣擋片1
3.4 污染清潔劑 2 包.
3.5 OPTION選購配件:
a.壓力信號傳輸器
驗數據記錄器
系統：
4.1 系統電源波動不得大于±1
4.2 電源:單相 220V 20A 50/60H
環境&設施:
5.1 可容許使用工作環境溫度5℃~30℃
5.2 實驗用水:純水
附配文件:
1.系統全新保證書,保固書
2 操作保養手冊